本文標題："增強電子穿透試片的能力-TEM與SEM顯微鏡的功能"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2013-1-18 23:40:32
近年來TEM與SEM的功能大大的提升，而TEM主要發(fā)展方向為：
(一)提高鑒別率
提升鑒別度，使點與點間之鑒別率為1.8Å、線與線間1.4Å。以其超越廠商對解析力最低要求。
電子顯微鏡中心的1000 keV原子分辨電子顯微鏡（atomic resolution electron microscope，AREM）
對點與點間之分辨率高達1.7Å，已可直接觀察晶體中的原子。
(二)提昇高壓電
增強電子穿透試片的能力，即可觀察具代表性試片；
更可透過臨場直接觀察輻射損傷試片的程度；降低散色像差（chromaticaberration），提升解析度等
后一篇文章：簡單介紹壓電力顯微鏡的原理，鐵材料的觀察 »
前一篇文章：« 工業(yè)金相顯微鏡廠家，電子產品檢測儀器
tags:技術,金相顯微鏡,上海精密儀器,
增強電子穿透試片的能力-TEM與SEM顯微鏡的功能,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/479.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/