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本文標題:"晶體工藝-磨料、磨具及各種材料的選用樣品檢測顯微鏡"

發布者:yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間:2015-7-28 14:4:7

晶體工藝-磨料、磨具及各種材料的選用樣品檢測顯微鏡

 
晶體工藝學是伴隨著現代科學技術而成長起來的一個新的工
藝學分支。它涉及到結晶學、光學、固體物理等多種學科的有關
知識,具有與傳統的機械加工和光學加工迥然不同的特點和內
容。這方面的成果已經廣泛應用于電子和激光等許多先進的科學
技術領域。毫無疑問,晶體工藝學已經變得越來越為人們所重視。
 
加工有密切聯系的晶體物理學,包括晶體結構、
X射線定向及晶體光學等方面的基礎知識;后半部分則著重介紹
晶體加工的:備個工藝環節,包括磨料、磨具及各種材料的選用,
晶體的切割,平面、球面及某些非球面的加工
 
測定完整球體曲率最簡易的辦法就是用卡尺測量直徑。半徑
的倒數也就是曲率。至于大的球體可以用測量局部曲率的方法來
測量。所用的主要工具是測球儀,它測量曲率時僅僅利用所測表
面的一部分,所以用于不完整球體的測量是最適合的,但也能用
于圓柱體或雙曲面。
 
X射線定向固然是確定晶向的精確方法,但有時光學法卻更
為簡便迅速,而且所用的儀器比較便宜,使用也較安全。正像第
四章中所指出的,光學法還可使隨后的X射線定向簡化.
 
    光學定向有兩種方法,即利用反射的和用雙折射的。在反射
法中也包括光雖然透過晶體但未涉及雙折射的那些情況。這方法
原理較簡單,應用也較廣泛,而且可用于自然面、解理面或者腐
蝕坑等。雙折射法對立方晶體無效,只適用于單軸晶體的部分晶
向及雙軸晶體——正交、單斜和三斜類的全部晶向;而反射法適
用于各類晶體。
 

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