本文標(biāo)題："AFM顯微鏡的測量原理-顯微儀器制造廠商"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2014-3-6 17:10:53
AFM顯微鏡的測量原理-顯微儀器制造廠商
原子力顯微鏡（Atomic force microscopy ，AFM ）
掃描隧通顯微鏡的主要局限是不能使用絕緣的基體。然而在能夠
發(fā)生隧進(jìn)電流的距離，探針尖與基體間存在引力或斥力，這種力與撰
體導(dǎo)電與非什電的性質(zhì)無關(guān)。
為了測量這種力，將針尖固定在軟的懸臂彈簧的一端，針尖的偏
移可以用光學(xué)的。為了測量法或光束偏移法監(jiān)測。這些忿臂彈簧是由
硅、二氧化硅或氮化硅（橫向尺寸100 μm ，厚Iμm ）用光刻微技
術(shù)制成的。一端連接一個小金剛石針尖，
通常這種方法的分辨率沒有掃描隧道顯微鏡高。然而這種方法可
以應(yīng)用于一些聚合反應(yīng)，如蛋自質(zhì)在絕緣表而的吸附和陽極氧化膜的
腐蝕等。
后一篇文章：應(yīng)用于產(chǎn)品質(zhì)量的檢驗用圖像金相顯微鏡 »
前一篇文章：« 金相顯微鏡的晶粒度是描述晶粒大小-測量儀器
tags:技術(shù),金屬,材料學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
AFM顯微鏡的測量原理-顯微儀器制造廠商,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/1447.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/